低测力塑料薄膜测厚仪、薄片测厚仪、隔膜测厚仪、纸张测厚仪、箔片测厚仪

低测力塑料薄膜测厚仪、薄片测厚仪、隔膜测厚仪、纸张测厚仪、箔片测厚仪

      这是一款性价比超高的低测力塑料薄膜测厚仪、低测力薄片测厚仪、低测力隔膜测厚仪、低测力纸张测厚仪、低测力箔片测厚仪，来自德国马尔量具。

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马尔薄膜测厚仪 C1208M应用范围

马尔薄膜测厚仪C1208M 主要用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片等各种材料的厚度精确测量。

广泛应用于薄膜生产企业、质检机构、研究院校等对薄膜厚度有严格要求的领域。

马尔薄膜测厚仪 C1208M可实现4000μm 量程范围内的测量，测量分辨率可达0.1μm。

电感测头P2004MA 可根据需要更换测量弹簧，有0.25N、0.5N、1N、1.25N、1.5N 的测力弹簧可供选择，实现不同软硬材料薄膜的准确测量。

马尔薄膜测厚仪C1208M可连接计算机，通过在计算机中安装MahrMillimar 薄膜测厚仪专用统计分析软件，可实现测量数据手动·自动采集，曲线图形统计分析，最大值，最小值，平均值，偏差值的统计分析等，可满足高频率测量，便于在计算机中保存及打印测量数据。

马尔薄膜测厚仪显示器Mahr Millimar C1208 产品特性

马尔薄膜测厚仪C1208M电感测头P2004MA技术参数：

测量范围：±2mm   

上限位：-2.2～0mm   

下限位：﹢2.2～4.4mm

提升/回退：真空提升

滞后性误差fu：0.5μm 

重复性误差fw：0.1μm     

电子零点处的测力：0.75N±0.15N      

灵敏度误差：0.3%   

测力增量：0.2N/mm       

缆线长度：2.5m 

灵敏度经过修正后的线性误差 

在±0.1量程内   —  

在±0.5量程内   0.4μm 

在±1.0量程内   1.5μm   

在±2.0量程内   3.0μm  

防护等级DIN VDE 0470   IP64

马尔薄膜测厚仪C1208M电感测头1301技术参数：

测量范围：±1.0mm/ ±.039"  

上限位：-1.1～0mm/-.043...0”   

下限位：﹢2.7mm/+.106”

提升/回退：手动提升线提升

滞后性误差fu：0.2μm 

重复性误差fw：0.1μm     

电子零点处的测力：0.75N±0.15N     

灵敏度误差：0.3%   

测力增量：0.4N/mm       

缆线长度：1.5m 

灵敏度经过修正后的线性误差 

在±0.3量程内   —  

在±0.5量程内   0.5μm 

在±1.0量程内   2.0μm   

在±2.0量程内   —   

防护等级IEC60529   IP64

薄膜测厚仪专用统计分析软件

软件运行显示界面：

Mahr Millimar薄膜测厚仪专用统计分析软件是特别为薄膜行业开发的统计分析软件，可实现测量数据手动.自动采集，曲线图形统计分析，最大值，最小值，平均值，偏差值的统计分析等，便于在计算机中保存及打印测量数据，是薄膜测量过程中不可或缺的统计分析工具。

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